日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应

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日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应

日期：2023-01-27 16:27

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摘要：日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应

供应日本日立HITACHI高速缺陷观测设备CR6300(Defect Review SEM) 的详细先容

特长

高画质，高对此，高解析度SEM图像
高速缺陷摄像（ADR）
人性化的GUI

＜选项＞

自动缺陷分类（ADC）
Bare wafer自动观测
检查制程说明书（iPQ）

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