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日本日立HITACHI,高速缺陷观测设备,贵阳供应

日期:2023-01-27 16:27
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摘要:日本日立HITACHI,高速缺陷观测设备,贵阳供应 日本日立HITACHI,高速缺陷观测设备,贵阳供应
供应日本日立HITACHI高速缺陷观测设备CR6300(Defect Review SEM)  的详细先容


特长

  • 高画质,高对此,高解析度SEM图像
  • 高速缺陷摄像(ADR)
  • 人性化的GUI
<选项>
  • 自动缺陷分类(ADC)
  • Bare wafer自动观测
  • 检查制程说明书(iPQ)

粤公网安备 51012402000291号

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